Sommaire Diffraction X - Le cliché de Laüe
Java Lauegram - (C) Steffen Weber, Juin 1997 (mis à jour 27/10/01)
Cet applet simule le diagramme de diffraction X pour la méthode de Laüe (transmission/reflexion).

Ces diagrammes de Laüe sont souvent utiles pour déterminer la qualité et l'orientation d'un monocristal.
  • Vous pouvez indexer les réflexions en cliquant dessus.

  • Le diffractogramme tracé ne rend compte que des relations géométriques (les intensités sont toutes arbitrairement égales).

  • Grossièrement, le rayon du spot peut être choisi proportionnel aux distances interréticulaires de telle sorte que les taches les plus grosses correspondent aux dhkl les plus grands (aux indices les plus faibles)

    NOTE:   La recherche s'effectue sur toutes les réflexions équivalentes dans les systèmes non-cubiques (pour obtenir des clichés symétriques).

    Pour cela, la boucle sur les hkl va de -2*ordre max. à +2*ordre max. (seulement dans le cas non-cubique).
    Il faut en tenir compte et ne pas fixer un ordre maximum trop élevé sinon le temps de calcul devient prohibitif.


    • Dernière mise à jour : 31/10/13