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La diffraction des rayons X des composés réduits en poudre (dite "diffraction X sur poudre") est utilisée couramment pour la caractérisation des solides. Les enregistrements des données ont été réalisés sur un diffractomètre automatique XPert Pro Philips dans les installations de diffraction du Laboratoire des Oxydes et Fluorures de l'Université du Maine (UMR 6010).
Dans ce qui suit, on suppose une bonne connaissance de la géométrie de diffraction X ( dite de Bragg) sinon, il est conseillé de parcourir d'abord la page dédiée à la Relation de Bragg puis de revenir à cette page.
La méthode consiste à soumettre le composé en poudre à un faisceau
de rayons X monochromatique et à recueillir le spectre de diffraction qu'il
émet ; de la valeur θhkl de chaque raie, on tire la
distance interréticulaire de la famille de plan (hkl) correspondante (Relation
de Bragg).
Le spectre de diffraction X d'un composé cristallisé a les caractéristiques
suivantes:
Chaque composé cristallisé a donc un spectre de diffraction caractéristique (fiche d'identité répertoriée dite "fiche "ASTM", du nom de la banque de données qui les rassemble).
Ci-dessous le diffractogramme obtenu pour KNiF3
Un second diffractogramme est réalisé sur un mélange de poudres contenant CaCO3 et TiO2
Ces deux diffractogrammes seront traités (dépouillement et interprétation) dans le paragraphe suivant.