Cette méthode permet de caractériser un système épais dont les foyers sont réels. Elle est basée sur la recherche de ses éléments antiprincipaux. C'est l'équivalent pour les systèmes épais de la méthode de Silbermann.
Cette méthode est surtout utilisée pour l'étude des objectifs photographiques.

Soient A et A' les intersections de l'axe optique avec les plans antiprincipaux (plans conjugués de grandissement − 1), S1 et S2 les positions des faces d'entrée et de sortie du systéme et F et F' les positions des foyers image et objet.
On a : d = AA' = AF + FS1 + S1S2 + S2F' + F'A'. On pose e = S1S2.
On montre que dans l'approximation de Gauss, on a la relation algébrique : 2f ' = d − e − FS1 − S2F' (1).
On procède en trois étapes.
    1) On place en A un objet dans le plan focal d'une lentille auxilliaire Laux : on éclaire donc le système en lumière parallèle. On déplace un écran pour obtenir un image nette de l'objet : on obtient la position du foyer image S2F'.
    2) On retourne le système et on cherche à obtenir une image nette sur l'écran : on obtient la position du foyer objet S1F.
    3) On retire la lentille Laux et on déplace le système centré et l'écran jusqu'à obtenir une image inversée de l'objet. L'image est dans le plan antiprincipal image A'. On déduit la distance focale de la relation (1). Comme dans ce cas le grandissement est égal à − 1, il est préférable de prendre un objet sysmétrique (anneau ou croix).

Utilisation
Utiliser les boutons radio pour choisir l'opération à réaliser.
Glisser l'écran avec la souris jusqu'à obtenir une image nette. Glisser le curseur bleu avec la souris pour déterminer les positions des faces d'entrée, de sortie et de l'écran.
La liste de choix permet de sélectionner trois système différents.
Attention : Dans cette appelette, la dimension de l'image est constante. Seul le réglage de la netteté est pris en compte.

Réponses : Les distances focales sont (dans le désordre) 93, 75 et 88 mm.