On considère N fentes verticales identiques, disposées de manière symétrique par rapport au point O, de largeur a, distantes de b, éclairées par une onde plane de longueur d'onde λ et dont la hauteur est grande devant a et b.
Le plan d'observation, parallèle au plan des sources, est situé à la distance D.
(D >> a ; D >> b).
On veut déterminer l'intensité de la lumière en un point P du plan d'observation distant de x de l'axe du système. On pose : u = π.x. b / (λ.D) et k = b / a.
On peut montrer (voir un cours d'optique) que l'intensité lumineuse en P est le produit de la fonction diffraction d'une fente par la fonction d'interférence :

I_P = [sin(u/k).sin(Nu) / (sin(u).u / k)]².

Le programme calcule l'intensité dans le plan d'observation pour x compris entre +5 mm et -5 mm et trace la courbe correspondante.

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Utilisation :
Deux listes de choix permettent de choisir le nombre de fentes et la valeur de la longueur d'onde utilisée.
Les cases à cocher permettent de visualiser soit la figure d'interférence des n sources, soit la figure de diffraction d'une seule source, soit le phénomène global.
Deux ascenseurs (faire glisser le curseur avec la souris) permettent de faire varier la largeur des fentes (a) et leur écartement (b).
Vérifier que seul l'écartement des fentes agit sur la valeur de l'interfrange et que la largeur des fentes modifie la figure de diffraction.
Vérifier que l'accroissement du nombre de fentes induit une concentration de la lumière autour des valeurs entières de u.
Remarque : Pour le tracé, les intensités sont normalisées ( Imax = 1). En réalité, le phénomène est d'autant plus lumineux que la largeur des fentes est grande.